高低溫恒溫恒濕試驗箱校準方法的優(yōu)缺點(diǎn)

高低溫恒溫恒濕試驗箱校準方法的優(yōu)缺點(diǎn)

　　下面對高低溫恒溫恒濕試驗箱校準方法的優(yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行介紹：

　　一、在無(wú)負載條件下開(kāi)展校準：

　　優(yōu)點(diǎn)是：高低溫恒溫恒濕試驗箱的整個(gè)工作區域都得到了校準、測試樣品變更時(shí)不需要重新校準、能夠對試驗箱的適用性做出有效的評估。

　　缺點(diǎn)是：不能評估測試樣品對試驗箱所造成的影響。

　　二、在有負載條件下開(kāi)展校準：

　　優(yōu)點(diǎn)是：能夠比較準確地評估測試樣品對試驗箱性能的影響、易于得到測試樣品關(guān)鍵部件或部位的環(huán)境試驗的詳細信息。

　　缺點(diǎn)是：當更換測試樣品時(shí)，需要重新校準。

　　三、在使用過(guò)程中的實(shí)時(shí)測量：

　　優(yōu)點(diǎn)是：此方法不僅具有1和2所述的方法具有的優(yōu)點(diǎn)，而且能夠得到測試樣品在環(huán)境試驗過(guò)程中**的環(huán)境參數，往往在對環(huán)境要求很高的產(chǎn)品試驗時(shí)采用。

　　缺點(diǎn)是：每次環(huán)境試驗都需要使用測量設備，通常在試驗箱校準時(shí)采用無(wú)負載條件下的校準方法，本文為了便于評估高低溫恒溫恒濕試驗箱的溫度性能，也采用了此方法進(jìn)行分析。